MINITEST730

德國(guó)epk MiniTest 730手持式涂層測(cè)厚儀特性：

-epk MiniTest 730涂層測(cè)厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線

epk MiniTest 730在消費(fèi)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)厲的校準(zhǔn)。普通的模仿探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上停止校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因而特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都非常精準(zhǔn)，將丈量錯(cuò)誤降至zui低

-epk MiniTest 730涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感

epk MiniTest 730在消費(fèi)過程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都停止了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這關(guān)于模仿探頭是基本不可能完成的。這樣溫度改動(dòng)就不會(huì)影響丈量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)作！

epk MiniTest 730涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭順應(yīng)性強(qiáng)

-涂層測(cè)厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償

由于運(yùn)用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償辦法，SIDSP電渦流探頭能夠順應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體資料，如銅，鈦，等等，無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。