菲希爾XUL220、X射線測(cè)厚儀信息

XUL220菲希爾X射線測(cè)厚儀屬于能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）測(cè)量儀器，通過 X 射線激發(fā)樣品表面，分析鍍層厚度及材料成分。其核心優(yōu)勢(shì)包括：

菲希爾X射線測(cè)厚儀多場(chǎng)景適用性：

測(cè)量單 / 雙 / 三層鍍層系統(tǒng)（如金屬基材上的鋅、鎳、鉻等鍍層）。

分析雙元 / 三元合金鍍層成分（如鋅鎳合金、銅錫合金）及電鍍液中金屬離子含量。

支持珠寶、貴金屬中金含量的快速無損檢測(cè)（需搭配 WinFTM® 軟件及校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊）。

高效測(cè)量設(shè)計(jì)：

自下而上測(cè)量方向：X 射線管和探測(cè)器位于測(cè)量臺(tái)下方，被測(cè)樣品直接放置于透明窗口，無需調(diào)整距離即可自動(dòng)定位，尤其適合螺絲、螺母、連接器等幾何復(fù)雜的小工件。

手動(dòng) XY 工作臺(tái)：支持 ±50mm 范圍內(nèi)的精細(xì)移動(dòng)，確保微小區(qū)域（如 PCB 焊點(diǎn)）的精準(zhǔn)測(cè)量。

智能化操作：

搭載WinFTM® 軟件，提供中、英、德等多語言界面，支持統(tǒng)計(jì)分析（如 SPC 圖、概率圖）、報(bào)告生成及數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

視頻輔助系統(tǒng)：高分辨率攝像頭實(shí)時(shí)顯示測(cè)量區(qū)域，疊加校準(zhǔn)刻度和十字線，輔助定位并減少人為誤差。